EA6000VX

Výrobce: Hitachi High-Tech Analytical Science

Vysoce citlivý XRF analyzátor povrchů Hitachi High-Tech EA6000VX

Stolní EDXRF analyzátor EA6000VX je určený primárně pro sledování rizikových prvků (Cd, Pb, Cr, Hg, Br, Cl, další) přes celé povrchy a pro proměřování mikroskopických bodů ve vybraných oblastech. Typickými aplikacemi jsou inspekce mikročástic, RoHS analýzy a dále měření tloušťky povlaků.

Detektor s vysokou rychlostí odečtu (až 150.000 cps - až 15 x více než u běžných modelů) a rozlehlý skenovací stolek 250 mm x 200 mm umožňují vysokorychlostní mapování s maximální efektivitou. Např. při mapování plochy o velikosti 100 mm x 100 mm může být olovo detekováno a specifikováno během několika minut. Detektor navíc nevyžaduje chlazení kapalným dusíkem.

Kontinuální automatické multibodové měření (až 500 bodů) umožňuje proměřování velkých vzorků s minimem požadavků na zásahy ze strany operátora.

EA6000VX umožňuje měření tloušťky povrchů, např. ultratenkých povlaků pozlacených filmů. Analýzu rizikových prvků (např. Pb) lze provádět simultánně s měřením tloušťky povlaku. Další aplikace zahrnují měření koncentrace toxických kovů po bezolovnatém pokovování, cínování a bezproudém niklování.

Volitelnou položkou je heliový proplach pro vysoce citlivá měření lehkých prvků (od Na). Proplach heliem je prováděn pouze v době vlastního měření, což snižuje významně náklady na provoz.

Významná je možnost analýzy kontaminantů o velikostí desítek mikrometrů na velké ploše a dále i kontaminantů např. v organických substancích.

Funkce Auto Approach umožňuje proměřovat výšku vzorku a automaticky nastavovat vzdálenost mezi vzorkem a detektorem, což významně usnadňuje proměřování vzorků komplikovaných tvarů. V případě manuálních operací zabraňuje možnému poškození vzorků funkce Sample Collision Prevention Mechanism.

Podrobnější informace zde:

https://www.hitachi-hightech.com/global/products/science/tech/...